系统级测试

经济高效、值得信赖的解决方案,覆盖范围更广

随着关键技术的不断发展,将设备推向终端应用的时间越来越紧迫,只有通过系统级测试才能实现对这些芯片的全面测试。

系统级测试将不再仅限于芯片制造商,还将用于测试电子行业的模块和面板。

作为测试创新的领先者,我们的解决方案是业内最广泛的。 这是向系统级测试的革命性转变,AEM具有独特的优势来支持客户完成这一转变。

半导体测试解决方案

  • 自动化系统级测试和后端测试,包括预烧
  • 大规模并行和异步拾取放置解决方案与主动热控制相结合
  • 多工序、多插槽
  • AOI 解决方案 – AI 和 3D 检测

大规模并行测试单元概念

AEM 的 SLT 方法可扩大测试流程的覆盖范围

自 2002 年以来一直是高密度模块化测试单元的先驱,生产超过40,000个SLT站点

科技

系统测试IP和架构

热敏阵列/转换套件/插座

自动化设备

系统级测试解决方案

可配置测试单元 (CTU) 实验室环境

可配置测试单元构件通过使用通用设备,实现了从实验室到大批量生产的快速扩展,从而减少从一个环境到另一个环境时相关需求

工程和试生产

HVM 灵活配置多达 320 个站点,实现全交钥匙工厂自动化

我们服务的市场

计算 / 中央处理器 / 图形处理器 / 人工智能芯片

电脑内存

移动应用处理器

汽车行业

我们的模块化测试愿景

二十多年来,我们一直以创新合作的方式提供客户定制的测试解决方案,在行业中处于领先地位。 通过汇集关键技术,我们始终如地研发和交付完整的解决方案,以确保我们的客户实现更大的测试覆盖率,并最大限度地提高其创新的可靠性和商业成功。 AEM已经部署了超过35,000个系统级测试站点和5,000个终端测试站点。 我们还在与多家客户合作,加强我们的预烧解决方案。

如今,我们看到了行业模式的转变和测试需求的改变。 随着异构封装的兴起,我们使用高性能、高密度、高密度的模块化异步大规模并行系统来测试复杂的设备。热控制正迅速成为测试方程式的关键组成部分。 我们首创的独一无二的多区域热控解决方案,以支持现代设备的极端功耗,同时确保总压力控制,以避免损坏被测设备。

在不久的将来,数据分析、机器学习和人工智能将在降低测试成本和增加测试覆盖率方面发挥关键作用。 AEM,我们将这些功能集成到我们的工具中,在测试方法方面保持领先地位 ,为我们的客户在新技术到来时做好准备。

重新想象您的测试流程并部署定制的解决方案

PRODUCTS

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Offers a full test solution with Test Systems hardware, software & support.

Offers innovative cabling and component test solutions designed for Laboratory, Manufacturing, and Field Use applications.