ATE 解决方案

我们的 ATE 测试解决方案提供完整的测试解决方案，包括测试系统硬件、软件和支持服务。

M5S

5 插槽测试机

零占用空间
5个通用插槽
空气冷却式
具有环境友好性的功耗

市场⁣
航天、军事、工业、传感器

适用芯片
针对模拟和混合信号测试需求的低引脚数量的芯片

M5S-HD

5 高清插槽测试机

零占用空间
最多 1024个引脚, 128 A
5个通用高密度插槽
空气冷却式
具有环境友好性的功耗

市场⁣
交通、消费型电子产品、各类运算、汽车

适用芯片
中等引脚数量的芯片，小规模并行测试

M10S-HD

10 高清插槽测试机

零占用空间
最多 2048个引脚, 256 A
10个通用高密度插槽
空气冷却式
具有环境友好性的功耗

市场⁣⁣
交通、消费型电子产品、各类运算、汽车

适用芯片
高引脚数量的芯片，大规模并行测试,适用于测试CPU、芯片组、微控制器、内存

特定于应用

特定于应用的测试机

零占用空间
5-10个通用型高密度插槽
应用特定仪器
空气冷却式
具有环境友好性的功耗

市场⁣
消费型电子产品、应用特定

适用芯片
图像传感器、MIPI接口、特种应用芯片

CMOS图像传感器

高级芯片测试解决方案。

测试创新即是推动进步

我们的 ATE 测试解决方案提供完整的测试解决方案，包括测试系统硬件、软件和支持服务。凭借 40 多年的 ATE 开发经验，我们基于FPGA设计的专有架构能够降低半导体制造商和供应商的测试成本。

目标器件及应用

配置

AEM Mu-Test 测试的演进

AEM 提供用于半导体集成电路测试的 ATE 解决方案，满足从晶圆和最终测试的工程设计到量产的各个阶段的需求

1980

FAIRCHILD
1980

Schlumberger
2002

nptest
2004

credence
2004

Mu-Test
2010

Incorporated
2011

Device Characterization
2014

High Volume Manufacturing
2020

AEM ATE

我们提供完整的测试解决方案，让我们的客户可以开发可扩展且具有成本效益的测试解决方案，跟上市场快速变化的需求。专有的基于 FPGA 的仪器支持应用定制和开放平台功能。我们在提供高度可定制和低成本的测试解决方案方面的拥有多种模块组合和领先的专业技术，这使得我们能够满足每个客户的需求。

ATE 完整测试解决方案

测试编程

AEM ATE 软件

诊断分析

AEM 测试设备

对接

AEM 测试设备

针对DUT的测试分类机

针对DUT的针测机和测试分类机

针测机 - 晶圆测试

测试分类机 – 封装IC

我们的定制解决方案，始终让您领先一步。