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测试创新

针对先进半导体技术量身定制的创新型全面解决方案

我们在
先进的应用和行业中
引领
测试创新

全球领先的应用特定半导体测试和处理解决方案提供商。

在仪器仪表、测试、自动化、机器人技术、光学检测、高端热控制和软件方面开发和获取世界一流的技术。

测试单元解决方案

系统级测试解决方案

测试单元概念可在单一平台上进行预烧、最终测试和系统级测试。

晶圆级测试解决方案

晶圆探测、框架探测、晶圆分拣设备、MEMS 传感器。

仪器

ATE 解决方案

全面的测试解决方案，包括高度集成的数字、电源和模拟仪器、成熟软件以及全球支持服务。

测试与测量解决方案

网络基础设施解决方案对以太网和光纤布线进行认证，并对各种智能楼宇技术进行验证测试。

AEM 凭借其 SLT+ 产品和世界领先的热敏电阻颠覆了测试流程。

快速、经济高效地提供可定制的测试解决方案，以确保总体系统可靠性，而无需承担传统安装基础的负担。欢迎联系我们的专家。

CIS 集成测试单元

M7IS ATE 解决方案
集成光源的特定应用测试解决方案

AEM 照明器
将集成光源整合到一台仪器中

Z1 处理程序
高吞吐量处理程序，具有独特的翻转机制，可进行 “活动缺陷(live bug)“/固定缺陷(dead bug)”配置

针对先进工业需求的定制解决方案

先进的自动化

热能控制

光学检测

测试解决方案

对接

软件整合

定制
是我们与生俱来的特质。

与我们联系，了解我们如何满足您的测试和创新要求。

业务遍及全球，提供世界一流的测试和创新功能

在全球范围内提供全栈式的端到端能力和解决方案。

测试创新

测试单元解决方案

系统级测试解决方案

晶圆级测试解决方案

仪器

ATE 解决方案

测试与测量解决方案

AEM 凭借其 SLT+ 产品和世界领先的热敏电阻颠覆了测试流程。

CIS 集成测试单元

针对先进工业需求的定制解决方案

定制
是我们与生俱来的特质。

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版权所有 © 2021 AEM

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测试单元解决方案

系统级测试解决方案

晶圆级测试解决方案

仪器

ATE 解决方案

测试与测量解决方案

AEM 凭借其 SLT+ 产品和世界领先的热敏电阻颠覆了测试流程。

CIS 集成测试单元

针对先进工业需求的定制解决方案

定制 是我们与生俱来的特质。

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定制
是我们与生俱来的特质。