系統測試級 (SLT)

具有成本效益和可靠的解決方案,以擴大覆蓋面

隨著技術節點的不斷發展,以及將設備推向最終應用的上市時間越來越快,只有通過系統級測試才能實現此類晶元的全面測試覆蓋。

系統級測試將不再僅供晶元製造商使用,還可用於測試電子行業的模組和面板。

作為測試創新的領導者,我們的解決方案是業內最廣泛的。 系統級測試正在發生革命性的轉變,我們具有獨特的優勢,可以在這一轉變中為客戶提供支援。

半導體測試解決方案

  • 自動化系統級測試和後端(back-end)測試,包括預燒(burn-in)
  • 大規模並行和非同步拾放解決方案與主動熱控制
  • 多工、多放入
  • AOI 解決方案 – AI 和 3D 檢測

大規模並行測試單元概念

AEM 的 SLT 方法可擴大測試流程的覆蓋範圍

自 2002 年以來一直是高密度模組化測試單元的先驅,生產超過40,000個SLT站點

技術

系統測試IP與體系結構

熱陣列/轉換組件/插座

自動化

系統測試級解決方案

可配置測試單元(CTU)實驗室環境

CTU 構建塊通過使用公共設備從實驗室快速擴展到高容量製造,
從而減少從一個環境到下一個環境的對應需求

工程及預製

HVM 靈活配置多達 320 個站點,具有全交鑰匙工廠自動化

我們服務的市場

计算 / 中央处理器 / 图形处理器 / 人工智能芯片

电脑内存

機動性應用處理器

汽車

我們的模塊化測試願景

二十多年來,我們一直以創新和協作的方式提供特定應用測試解決方案,引領行業發展。 通過整合我們的技術支柱,我們始終如一地設計和提供完整的解決方案,以確保我們的客戶實現更大的測試覆蓋率,並最大限度地提高其創新的可靠性和商業成功。 AEM已部署超過35,000個系統級測試網站和5,000個最終測試網站。 我們還在與多個客戶一起加強我們的老化解決方案。

今天,我們看到了行業的範式轉變,以及需要以不同的方式進行測試。 隨著異構封裝的興起,我們使用高性能、高密度的模組化、異步大規模並行系統來測試複雜的設備。 熱控制正迅速成為測試方程式的關鍵組成部分。 我們正在開創獨一無二的多區域散熱解決方案,以支援現代設備的極端功耗,同時確保總力控制,以避免損壞被測設備。

在不久的將來,數據分析、機器學習和人工智慧將在降低測試成本和增加測試覆蓋率方面發揮關鍵作用。 在AEM,我們將這些功能集成到我們的工具中,以便為我們的客戶做好準備,並在測試方法方面保持領先地位。

重新想象您的測試流程並部署定製的解決方案

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