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Test that partners innovation is test that powers progress
市場
航太、軍用、工業、感應器
適用裝置
包含類比及混合訊號需求的低數位接腳數裝置
市場
行動裝置、消費型電子產品、各類運算、車用
適用裝置
中數位接腳數裝置，低平行測試
市場
行動裝置、消費型電子產品、各類運算、車用
適用裝置
高數位接腳數裝置及高平行測試需求。CPU、晶片組、微控制器、記憶體
市場
消費型電子產品、特定應用
適用裝置
影像感應器、MIPI 介面、特定應用
夥伴式創新的測試是推動進步的測試
我們的ATE測試解決方案提供了一個完整的測試解決方案，包括測試系統硬體、軟體和支援服務。憑藉40多年的ATE開發經驗，我們基於FPGA設計的專有架構使半導體製造商和供應商的測試成本降低。
AEM Mu-Test測試的演變
AEM用於半導體IC測試的ATE解決方案涵蓋晶圓分類和最終測試，並提供從工程開發到大批量生產製造的整體過程合作與服務
FAIRCHILD
Schlumberger
nptest
credence
Mu-Test
我們提供完整的測試解決方案，使我們的客戶能夠開發出可擴展和具有成本效益的測試解決方案，以跟上市場快速變化的需求。基於FPGA的專有儀器允許應用定制和開放平台能力。透過我們模組化設計組合和領先前沿的專業技術，可提供高度客制化和低測試成本的解決方案，使我們能夠滿足每個客戶的需求。
我們的客制化的解決方案使您能夠始終領先一步。