M5S
5槽測試儀
  • 免佔空間
  • 5 個通用插槽
  • 氣冷式
  • 環保耗能


市場
航太、軍用、工業、感應器

裝置
低數位接腳數裝置含類比及混合訊號需求

M5S-HD
5高密度插槽測試儀
  • 免佔空間
  • 最多 1024 個接腳,128 A
  • 5 個通用高密度插槽
  • 氣冷式
  • 環保耗能


市場
行動、消費者、運算、汽車

裝置
中數位接腳數裝置,低平行測試

M10S-HD
10高密度插槽測試儀
  • 免佔空間
  • 最多 2048 個接腳,256 A
  • 10 個通用高密度插槽
  • 氣冷式
  • 環保耗能


市場
行動、消費者、運算、汽車

裝置
高數位接腳數裝置及高平行測試需求。CPU、晶片組、微控制器、記憶體

特定應用
特定應用測試儀
  • 免佔空間
  • 5-10 個通用高密度插槽
  • 特定應用儀器
  • 氣冷式
  • 環保耗能


市場
消費者、特定應用

裝置
影像感應器、MIPI 介面、特定應用

夥伴式創新的測試是推動進步的測試

我們的ATE測試解決方案提供了一個完整的測試解決方案,包括測試系統硬體、軟體和支援服務。憑藉40多年的ATE開發經驗,我們專有的基於FPGA的架構使半導體製造商和供應商的測試成本降低。

AEM Mu-測試的演變

AEM用於半導體IC測試的ATE解決方案從工程到大批量製造的晶圓分類和最終測試的規模

1980
1980
2002
2004
2004
2010
2011
2014
2020

FAIRCHILD

Schlumberger

nptest

credence

Mu-Test

合併的

裝置表徵

大批量製造

AEM ATE

我們提供完整的測試解決方案,使我們的客戶能夠開發出可擴展和具有成本效益的測試解決方案,以跟上市場快速變化的需求。基於FPGA的專有儀器允許應用定制和開放平台能力。我們在提供高度可定製和低成本的測試解決方案方面的構建模組組合和領先的技術專長,使我們能夠滿足每個客戶的需求。

ATE完整的測試解決方案

測試程式設計
AEM ATE軟體
診斷
AEM測試設備
AEM測試設備
介面聯繫
Component Device Under Test (DUT)
AEM測試設備
帶有DUT的處理常式
帶有DUT的處理常式/探測儀
探測儀 - 晶圓測試
處理常式 - 包裝測試

我們的定制解決方案使您能夠始終領先一步。