M5S
5插槽測試機
  • 免佔空間
  • 5 個通用插槽
  • 氣冷式
  • 環保耗能


市場
航太、軍用、工業、感應器

適用裝置
包含類比及混合訊號需求的低數位接腳數裝置

M5S-HD
5高密度插槽測試儀機
  • 免佔空間
  • 最多 1024 個接腳,128 A
  • 5 個通用高密度插槽
  • 氣冷式
  • 環保耗能


市場
行動裝置、消費型電子產品、各類運算、車用

適用裝置
中數位接腳數裝置,低平行測試

M10S-HD
10高密度插槽測試儀機
  • 免佔空間
  • 最多 2048 個接腳,256 A
  • 10 個通用高密度插槽
  • 氣冷式
  • 環保耗能


市場
行動裝置、消費型電子產品、各類運算、車用

適用裝置
高數位接腳數裝置及高平行測試需求。CPU、晶片組、微控制器、記憶體

特定應用
特定應用測試儀機
  • 免佔空間
  • 5-10 個通用高密度插槽
  • 特定應用儀器
  • 氣冷式
  • 環保耗能


市場
消費型電子產品、特定應用

適用裝置
影像感應器、MIPI 介面、特定應用

夥伴式創新的測試是推動進步的測試

我們的ATE測試解決方案提供了一個完整的測試解決方案,包括測試系統硬體、軟體和支援服務。憑藉40多年的ATE開發經驗,我們基於FPGA設計的專有架構使半導體製造商和供應商的測試成本降低。

AEM Mu-Test測試的演變

AEM用於半導體IC測試的ATE解決方案涵蓋晶圓分類和最終測試,並提供從工程開發到大批量生產製造的整體過程合作與服務

1980
1980
2002
2004
2004
2010
2011
2014
2020

FAIRCHILD

Schlumberger

nptest

credence

Mu-Test

股份有限公司

特性分析

大批量生產製造

AEM ATE

我們提供完整的測試解決方案,使我們的客戶能夠開發出可擴展和具有成本效益的測試解決方案,以跟上市場快速變化的需求。基於FPGA的專有儀器允許應用定制和開放平台能力。透過我們模組化設計組合和領先前沿的專業技術,可提供高度客制化和低測試成本的解決方案,使我們能夠滿足每個客戶的需求。

ATE完整的測試解決方案

測試程式設計
AEM ATE軟體
診斷分析
AEM測試設備
AEM測試設備
介面溝通
Component Device Under Test (DUT)
AEM測試設備
針對DUT的測試分類機
針對DUT的針測機和測試分類機
針測機 - 晶圓測試
測試分類機 - 封裝IC

我們的客制化的解決方案使您能夠始終領先一步。