晶圓和框架探測

p>我們的晶圓和晶圓架探針站針對各種MEMS和其他半導體器件的測試和校準進行了優化。我們的特定應用測試解決方案的主要好處是:

  • 在晶圓級的早期器件表徵 ->更快的上市時間
  • 在晶圓製造期間改進品質控制 ->更好的產量和產品品質
  • 在晶圓分揀期間已知的好模具和品質分檔 ->節約成本
  • 晶圓級封裝器件的最終測試 ->通過消除取放操作提高產量

壓力感測器

壓力感測器在工業、汽車、航空航太、醫療和消費類應用中的使用頻率較高,壓力水準範圍較廣。

校準這些感測器需要測量感測器在不同壓力水準和溫度下的輸出。精確的壓力和溫度控制導致精確的設備校準。

Afore在2000年推出了第一個壓力感測器測試系統。

我們的解決方案的優點包括定義明確的測試環境,能夠設置和保持精確的壓力水準和溫度。

陀螺儀

陀螺儀被廣泛用於汽車行業、工業和移動應用以及娛樂設備。諸如無線電控制的無人機等消費電子產品的需求也在不斷增加。

需要準確的感測器校準以確保導航功能中的正確位置計算。精確的角速率控制是精確的感測器校準所必需的。Afore的測試設備在真實的物理條件下和任何方向上為陀螺儀的測試提供了出色的刺激精度。

加速器

Afore在MEMS加速度計測試的專業探針站和解決方案方面擁有長期經驗。
加速度計越來越多地用於現代技術解決方案,從汽車和醫療應用到消費電子、可擕式電子設備和可穿戴設備。

我們的自動化測試解決方案專注於準確的感測器定位和高輸送量,以提供最佳設備性能和低測試成本。

電子羅盤/磁強計

電子羅盤是一種利用加速計和磁力計感測器的傾斜補償電子羅盤。它為導航、遊戲和虛擬實境輸入裝置、計步器、基於位置的工業和消費電子提供了新的可能性。

Afore公司的磁場發生器在X、Y和Z方向提供高品質的磁場,以實現磁感測器的最佳校準。

與我們的探針站相結合,該磁場發生器可用於僅探測磁力計或包括加速計在內的完整電子羅盤系統。

低溫晶圓探測儀

低溫晶圓探測對於低溫量子計算和超導CMOS半導體等若干新興技術的設備測試非常重要。

為了以具有成本效益和快速的方式達到這些溫度,在一個熱和大氣隔離的真空室內冷卻整個晶圓是很有好處的。有了我們的新解決方案,與傳統的單一設備測試相比,我們在樣品表徵方面的輸送量可提高100倍。它加快了低溫量子設備、電子和探測器的開發。

探索我們的定製解決方案的模組化方法。

今天就和我們談談吧。