更好的測試推動更好的創新

Afore晶圓級測試解決方案在開發和部署MEMS器件的特定應用測試解決方案方面建立了領導地位,提供適用於研發、晶圓分類和最終測試的晶圓和框架探測站。我們提供最先進的解決方案來測試晶圓級和其他高級封裝中的環境和運動感測器。

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世界上第一個帶有壓力刺激的生產探測系統

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世界上第一個用於運動感測器的旋轉式探測系統

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世界上第一個300毫米低溫探測站

應用程式

我們的晶圓和晶圓架探針站為各種MEMS和其他半導體器件的測試和校準進行了優化。

產品

我們的晶圓和晶圓架探針站為各種MEMS和其他半導體器件的測試和校準進行了優化。

我們的定製解決方案使您能夠始終領先一步。