應用程式 – AEM

MEMS最終測試晶片級先驅

我們的晶圓和晶圓框架探針站針對各種MEMS和其他半導體器件的測試和校準進行了優化。我們的特定應用測試解決方案的主要好處是：

壓力感測器在大範圍壓力位準中，頻繁應用於工業、汽車、航太、醫療和消費性產品上。

校準這些感測器需要測量感測器在不同壓力位準和溫度下的輸出。而精確的壓力和溫度控制，可大大提升設備校準的精準度。

Afore在2000年推出了第一個壓力感測器測試系統。

我們的解決方案的優點包括定義明確的測試環境，能夠設置和保持精確的壓力位準和溫度。

陀螺儀被廣泛用於汽車行業、工業和移動應用以及娛樂設備。諸如無線電控制的無人機等消費電子產品的需求也在不斷增加。

需要準確的感測器校準以確保導航功能中的正確位置計算。精確的角速率控制是精確的感測器校準所必需的。Afore的測試設備在真實的物理條件下和任何方向上為陀螺儀的測試提供了出色的刺激精度。

Afore在MEMS加速度計測試的專業探針站和解決方案方面擁有長期經驗。
加速度計越來越多地用於現代技術解決方案，從汽車和醫療應用到消費電子、可擕式電子設備和可穿戴設備。

我們的自動化測試解決方案專注於準確的感測器定位和高產出量，以提供最佳設備性能和低測試成本。

電子羅盤是一種利用加速計和磁力計感測器的傾斜補償電子羅盤。它為導航、遊戲和虛擬實境輸入裝置、計步器、基於位置的工業和消費電子提供了新的可能性。

Afore公司的磁場發生器在X、Y和Z方向提供高品質的磁場，以實現磁感測器的最佳校準。

與我們的探針站相結合，該磁場發生器可用於僅探測磁力計或包括加速計在內的完整電子羅盤系統。

低溫晶圓探測對於低溫量子計算和超導CMOS半導體等若干新興技術的設備測試非常重要，而調整溫度接近絕對零度是必不可少的條件。

為了以具有成本效益和快速的方式達到這些溫度，在一個完全與熱和大氣隔絕的真空腔內，對整片晶圓進行冷卻，其效果是最顯著的。有了我們的新解決方案，與傳統的單一設備測試相比，我們在樣品特性分析的產出量可提高100倍。它加快了低溫量子設備、電子和探測器的開發。

探索我們的定製解決方案的模組化方法。

今天就和我們談談吧。