晶圓級測試解決方案

更好的測試推動更好的創新

AEM晶圓測試解決方案在開發和部署MEMS器件的特定應用測試解決方案方面建立了領導地位,
提供適用於研發、晶圓分類和最終測試的晶圓和框架探測站。
我們為晶圓級和其他先進製程封裝測試的環境和運動感測器,提供最先進的解決方案。

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世界上第一個帶有壓力刺激的生產探測系統

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世界上第一個用於運動感測器的旋轉式探測系統

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世界上第一個300毫米低溫探測站

世界上第一個帶有壓力刺激的生產探測系統

應用程式

我們的晶圓和晶圓框架探針站為各種MEMS和其他半導體器件的測試和校準進行了優化。

產品

我們的晶圓和晶圓框架探針站為各種MEMS和其他半導體器件的測試和校準進行了優化。

我們的客制化的解決方案使您能夠始終領先一步。

服務

PRODUCTS

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