AEM – AEM

測試創新

針對先進半導體技術量身訂製的創新型全端解決方案

AI 時代高性能處理器測試的領導者

作為熱、高功率和高度並行測試解決方案的領導者，我們與客戶合作，以釋放 AI 革命的潛力。

AI 晶片在先進封裝、高功率熱要求和苛刻的測試覆蓋率方面樹立了新的範例。

我們常見的有源熱吸附材料被集成到各種測試插入解決方案中，從工程實驗室到大批量製造，以實現快速上市時間和良率提高。

具有智慧熱控制的高輸送量自動老化

行業領先的三溫 ATC 熱解決方案與工業標準分選機配對，可滿足所有三溫 SLT 測試需求。今天請與我們的專家談談。

AEM 憑藉其 SLT+ 產品和世界領先的熱控制技術顛覆了測試流程。

快速、經濟高效地提供可客製的測試解決方案，確保總體系統可靠性，而無需承擔傳統測試系統的負擔。立即與我們的專家交談。

CIS綜合測試單元

M7IS ATE 解決方案
集成光源的特定應用測試解決方案

AEM 照明器
集成光源組合在一台儀器中

Z1 處理程式
高輸送量處理程式，具有獨特的翻轉機制，用於「即時錯誤/死錯誤」配置

測試單元解決方案

老化解決方案

高功率、高輸送量的自動老化功能與高並行測試平臺集成。

系統級測試解決方案

測試單元概念可在單一平台上進行預燒、最終測試和系統級測試。

晶圓級測試解決方案

晶圆探测、框架探测、晶圆分料设备、MEMS感測器。

儀器設備

ATE解決方案

全面的測試解決方案，包括高度集成的數位字、功率和類比儀器、成熟軟件以及全球支援服務。

測試和測量解決方案

網絡基礎設施解決方案對以太網和光纖佈線進行認證，並對各種智能建築技術進行驗證測試。

滿足先進行業需求的定製解決方案

高級自動化

熱控制

光學檢測

測試解決方案

介面溝通

軟體集成

定製
存在於我們的DNA中

與我們交談，瞭解我們如何能滿足您的測試和創新要求。

具有遍布全球的據點和世界級的測試創新能力

在全球範圍內提供完整的堆棧端到端功能和解決方案。