MEMS最终测试晶圆级先驱

晶圆和晶框架探测

我们的晶圆和晶圆框探测站经过优化,适用于各种微机电系统和其他半导体器件的测试和校准。我们的特定于应用测试解决方案的主要优点是:

  • 晶圆级的早期器件特性 -> 更快的上市时间
  • 改进了晶圆制造过程中的质量控制 -> 更高的产量和产品质量
  • 晶片分级过程中的已知良品晶粒(Known Good Die)和质量分拣 -> 节约成本
  • 晶圆级封装器件的最终测试 -> 去除拾取和放置操作提高产能

压力传感器

压力传感器频繁适用于在工业、汽车、航空航天、医疗和消费领域,应用压力级别范围更广。

校准传感器需要测量不同压力级别和温度下的传感输出。精确的压力和温度控制可实现精确的设备校准。

Afore 于 2000 年推出了首个压力传感器测试系统。

我们解决方案的优势包括: 精确确定测试环境,能够设置和维持精确的压力级别和温度。

陀螺仪

陀螺仪广泛应用于汽车行业、工业和移动应用以及娱乐设备。对无线电控制的无人机等消费电子产品的需求也在不断增长。

要确保导航功能中的位置计算正确,需要精确的传感器校准,而精确的传感器校准需要精确的角速率控制。Afore 的测试设备为真实物理条件和任何方向上的陀螺仪测试提供了出色的激励精度。

加速度传感器

在专用探针站和MEMS加速度传感器测试解决方案方面,Afore拥有丰富的经验。

加速度传感器越来越多地应用于现代技术解决方案中,从汽车和医疗应用到消费电子产品、便携式电子设备和可穿戴设备,应有尽有。

我们的自动化测试解决方案专注于准确的传感器定位和高吞吐量,以提供最佳性能的设备和低测试成本。

电子罗盘/磁强计

电子罗盘是利用加速计和磁强计传感器的倾斜补偿电子罗盘。它为导航、游戏和虚拟现实输入设备、计步器、基于位置的工业和消费电子产品提供了新的可能性。创建稳定且均匀的磁场对于正确校准磁强计和电子罗盘设备至关重要。

Afore 的磁场发生器可在 X、Y 和 Z 三个方向提供高质量的磁场,可实现磁传感器的最佳校准。

与我们的探测台配合使用,该场强发生器可用于仅探测磁力计或包括加速计在内的完整电子罗盘系统。

低温晶片探测

低温晶片探测对于低温量子计算和超导CMOS半导体等新兴技术的器件测试非常重要。接近绝对零度的温度对这些应用至关重要。

为了以经济高效的方式达到这些温度,在热隔离和大气隔离的真空室中冷却整个晶圆是有效的方法。使用我们的新解决方案,与传统的单器件测试相比,我们在样品表征方面比传统单器件测试,吞吐量可提高100倍。它加快了低温量子器件、电子器件和探测器的发展。

了解我们为客户量身定制解决方案的模块化方法。

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