M5S
5 插槽测试仪
  • 零占用空间
  • 5个 通用插槽
  • 空气冷却式
  • 具有环境友好性的功耗


市场
航天、军事、工业、传感器

设备
低数字式引脚计数设备,基于模拟和混合信号要求

M5S-HD
5 高清插槽测试仪
  • 零占用空间
  • 最多 1024个引脚, 128 A
  • 5个 通用插槽
  • 空气冷却式
  • 具有环境友好性的功耗


市场
交通、消费者、计算、汽车

设备
中等数字式引脚计数设备,低平行测试

M10S-HD
10 高清插槽测试仪
  • 零占用空间
  • 最多 2048个引脚, 256 A
  • 10个 通用插槽
  • 空气冷却式
  • 具有环境友好性的功耗


市场
交通、消费者、计算、汽车

设备
高数字式引脚计数设备和高平行测试要求CPU、芯片组、微控制器、内存

特定于应用
特定于应用的测试仪
  • 零占用空间
  • 5-10个通用型高密度插槽
  • 应用特定仪器
  • 空气冷却式
  • 具有环境友好性的功耗


市场
消费者、应用特定

设备
图像创安琪,MIPI接口、应用特定

测试创新即是推动进步

我们的 ATE 测试解决方案提供完整的测试解决方案,包括测试系统硬件、软件和支持服务。凭借 40 多年的 ATE 开发经验,我们专有的基于 FPGA 的架构能够降低半导体制造商和供应商的测试成本。

AEM Mu 测试的演进

AEM 提供用于半导体集成电路测试的 ATE 解决方案,满足从晶圆测试和最终测试的工程设计到大批量制造的各个阶段的需求

1980
1980
2002
2004
2004
2010
2011
2014
2020

FAIRCHILD

Schlumberger

nptest

credence

Mu-Test

整合

器件表征

大批量制造

AEM ATE

我们提供完整的测试解决方案,让我们的客户可以开发可扩展且具有成本效益的测试解决方案,跟上市场快速变化的需求。专有的基于 FPGA 的仪器支持应用定制和开放平台功能。我们在提供高度可定制和低成本的测试解决方案方面的拥有多种模块组合和领先的专业技术,这使得我们能够满足每个客户的需求。

ATE 完整测试解决方案

测试编程
AEM ATE 软件
诊断
AEM 测试设备
AEM 测试设备
对接
Component Device Under Test (DUT)
AEM 测试设备
拣选机和 DUT
探针台/拣选机和 DUT
探针台 - 晶圆测试
拣选机 - 封装测试

我们定制的解决方案始终让您领先一步。