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市场
航天、军事、工业、传感器
适用芯片
针对模拟和混合信号测试需求的低引脚数量的芯片
市场
交通、消费型电子产品、各类运算、汽车
适用芯片
中等引脚数量的芯片，小规模并行测试
市场
交通、消费型电子产品、各类运算、汽车
适用芯片
高引脚数量的芯片，大规模并行测试,适用于测试CPU、芯片组、微控制器、内存
市场
消费型电子产品、应用特定
设备
图像传感器、MIPI接口、特种应用芯片
测试创新即是推动进步
我们的 ATE 测试解决方案提供完整的测试解决方案，包括测试系统硬件、软件和支持服务。凭借 40 多年的 ATE 开发经验，我们基于FPGA设计的专有架构能够降低半导体制造商和供应商的测试成本。
AEM Mu-Test 的演进
AEM 提供用于半导体集成电路测试的 ATE 解决方案，满足从晶圆测试和最终测试的工程设计到量产的各个阶段的需求。
我们提供完整的测试解决方案，让我们的客户可以开发可扩展且具有成本效益的测试解决方案，跟上市场快速变化的需求。专有的基于 FPGA 的仪器支持应用定制和开放平台功能。透过我们模组化设计组合和领先前沿的专业技术，可提供高度客制化和低测试成本的解决方案，这使得我们能够满足每个客户的需求。
FAIRCHILD
Schlumberger
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Mu-Test
我们的定制解决方案，
始终让您领先一步。