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测试创新即是推动进步
我们的 ATE 测试解决方案提供完整的测试解决方案，包括测试系统硬件、软件和支持服务。凭借 40 多年的 ATE 开发经验，我们专有的基于 FPGA 的架构能够降低半导体制造商和供应商的测试成本。
AEM Mu 测试的演进
AEM 提供用于半导体集成电路测试的 ATE 解决方案，满足从晶圆测试和最终测试的工程设计到大批量制造的各个阶段的需求
FAIRCHILD
Schlumberger
nptest
credence
Mu-Test
我们提供完整的测试解决方案，让我们的客户可以开发可扩展且具有成本效益的测试解决方案，跟上市场快速变化的需求。专有的基于 FPGA 的仪器支持应用定制和开放平台功能。我们在提供高度可定制和低成本的测试解决方案方面的拥有多种模块组合和领先的专业技术，这使得我们能够满足每个客户的需求。
我们定制的解决方案始终让您领先一步。