M5S
5 插槽测试仪机
  • 零占用空间
  • 5个 通用插槽
  • 空气冷却式
  • 具有环境友好性的功耗


市场
航天、军事、工业、传感器

适用芯片
针对模拟和混合信号测试需求的低引脚数量的芯片

M5S-HD
5 高清插槽测试仪机
  • 零占用空间
  • 最多 1024个引脚, 128 A
  • 5个 通用插槽
  • 空气冷却式
  • 具有环境友好性的功耗


市场
交通、消费型电子产品、各类运算、汽车

适用芯片
中等引脚数量的芯片,小规模并行测试

 
M10S-HD
10 高清插槽测试仪机
  • 零占用空间
  • 最多 2048个引脚, 256 A
  • 10个 通用插槽
  • 空气冷却式
  • 具有环境友好性的功耗


市场
交通、消费型电子产品、各类运算、汽车

适用芯片
高引脚数量的芯片,大规模并行测试,适用于测试CPU、芯片组、微控制器、内存

特定于应用
特定于应用的测试仪机
  • 零占用空间
  • 5-10个通用型高密度插槽
  • 应用特定仪器
  • 空气冷却式
  • 具有环境友好性的功耗


市场
消费型电子产品、应用特定

设备
图像传感器、MIPI接口、特种应用芯片

测试创新即是推动进步

我们的 ATE 测试解决方案提供完整的测试解决方案,包括测试系统硬件、软件和支持服务。凭借 40 多年的 ATE 开发经验,我们基于FPGA设计的专有架构能够降低半导体制造商和供应商的测试成本。

AEM Mu-Test 的演进

AEM 提供用于半导体集成电路测试的 ATE 解决方案,满足从晶圆测试和最终测试的工程设计到量产的各个阶段的需求。

我们提供完整的测试解决方案,让我们的客户可以开发可扩展且具有成本效益的测试解决方案,跟上市场快速变化的需求。专有的基于 FPGA 的仪器支持应用定制和开放平台功能。透过我们模组化设计组合和领先前沿的专业技术,可提供高度客制化和低测试成本的解决方案,这使得我们能够满足每个客户的需求。

1980
1980
2002
2004
2004
2010
2011
2014
2020

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AEM 测试设备
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Component Device Under Test (DUT)
AEM 测试设备
针对DUT的测试分类机
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针测机
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我们的定制解决方案,
始终让您领先一步。