晶圆和框架探测

我们的晶圆和晶圆框架探针台针对各种 MEMS 和其他半导体器件的测试和校准进行了优化。我们的特定于应用的测试解决方案的主要优点是:

  • 在晶圆级进行早期器件表征 -> 更快的上市时间
  • 在晶圆制造过程中改进质量控制 -> 更好的良品率和产品质量
  • 晶圆测试期间的已知良好裸晶和质量分级 -> 成本节约
  • 晶圆级封装器件的最终测试 -> 通过消除拣选和放置操作来提高良品率

压力传感器

压力传感器在工业、汽车、航空航天、医疗和消费类应用中的使用频率更高,而且具有广泛的压力级。

校准这些传感器需要测量不同压力级和温度下的传感器输出。精确的压力和温度控制可实现精确的设备校准。

Afore 在 2000 年推出了首个压力传感器测试系统。

我们解决方案的优势包括定义明确的测试环境,以及设置和保持精确压力级和温度的能力。

陀螺仪

陀螺仪广泛应用于汽车行业、工业应用和移动应用以及娱乐设备。对无线电控制的无人机等消费电子产品的需求也在不断增加。

要确保导航功能中的位置计算正确,需要精确的传感器校准,而精确的传感器校准需要精确的角速率控制。Afore 的测试设备为真实物理条件和任何方向上的陀螺仪测试提供了出色的激励精度。

加速计

Afore 在 MEMS 加速计测试的专用探测台和解决方案方面拥有丰富的经验。
加速计越来越多地用于现代技术解决方案,包括汽车和医疗应用、消费电子、便携式电子设备和可穿戴设备。

我们的自动化测试解决方案主要面向精确的传感器定位和高通量,以提供最佳设备性能和低测试成本。

电子罗盘/磁强计

电子罗盘是利用加速计和磁强计传感器的倾斜补偿电子罗盘。它为导航、游戏和虚拟现实输入设备、计步器、基于位置的工业和消费电子产品提供了新的可能性。创建稳定且均匀的磁场对于正确校准磁强计和电子罗盘设备至关重要。

Afore 的磁场发生器在 X、Y 和 Z 方向提供高质量的磁场,可实现磁传感器的最佳校准。

与我们的探测台配合使用,该场强发生器可用于仅探测磁力计或包括加速计在内的完整电子罗盘系统。

低温晶圆探测

低温晶圆探测对于低温量子计算和超导电 CMOS 半导体等几种新兴技术的器件测试非常重要。接近绝对零度的温度对于这些应用至关重要。

为了以经济高效且快速的方式达到这些温度,在绝热和大气隔离的真空室内冷却整个晶圆是有益的。与传统的单设备测试相比,我们的新解决方案可以将样品表征的吞吐量提高 100 倍。它加速了低温量子器件、电子产品和探测器的发展。

发现我们用于定制解决方案的模块化方法。

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