晶圆级测试解决方案

更好的测试驱动更好的创新

“AEM晶圆测试解决方案”使AEM在开发和部署MEMS芯片专用测试解决方案方面占据了领先地位,提供适用于研发、晶圆分类和最终测试所需的晶圆与框架探测站。我们提供最先进的解决方案来测试晶片水平和其他先进封装的环境和运动传感器。

 
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全球首个具有压力激励的生产探测系统

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全球首个用于运动传感器的旋转探测系统

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全球首个 300毫米 低温探针台

全球首个带压力激励的生产型探测系统

应用​

我们的晶圆和晶圆框架探针台针对各种 MEMS 和其他半导体设备的测试和校准进行了优化。

产品

我们的晶圆和晶圆框架探针台针对各种 MEMS 和其他半导体设备的测试和校准进行了优化。

我们的定制解决方案,始终让您领先一步。

服务

PRODUCTS

Test at any scale, at any stage of the innovation process. Explore our portfolio of application-specific solutions

Offers a full test solution with Test Systems hardware, software & support.

Offers innovative cabling and component test solutions designed for Laboratory, Manufacturing, and Field Use applications.

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