更好的测试驱动更好的创新

Afore 晶圆级测试解决方案在为 MEMS 设备开发和部署特定于应用的测试解决方案方面确立了领先地位,可提供适用于研发、晶圆测试和最终测试的晶圆和框架探测台。我们提供最先进的解决方案来测试晶圆级和其他高级封装的环境和运动传感器。

1

全球首个带压力激励的生产探测系统

1

全球首个用于运动传感器的旋转探测系统

1

全球首个 300mm 低温探针台

应用

我们的晶圆和晶圆框架探针台针对各种 MEMS 和其他半导体设备的测试和校准进行了优化。

产品

我们的晶圆和晶圆框架探针台针对各种 MEMS 和其他半导体设备的测试和校准进行了优化。

我们定制的解决方案始终让您领先一步。